Тег: Метрология

Технология позволит измерять эффективность материалов для фотонных технологий для определения защищенности кристалла от рассеивания света

Технология упростит производство микроэлектроники для датчиков и сенсоров

Представитель ВНИИМ им. Д.И. Менделеева был назначен председателем Объединенного комитета по эталонам КООМЕТ

В лаборатории студенты будут разрабатывать функциональные упаковки и проводить исследования химических соединений

Новые люминесцентные сенсоры смогут с высокой точностью оценивать уровень рНi